影响心脏植入式电子设备导线脱位的危险因素分析
朱博韬1
李海威1
刘雨桐1
崔乃元1
刘桓甫1
孙卫平1
钱满1
袁钟毓2
张晓萍3
吴永全1
1.首都医科大学附属北京安贞医院心脏起搏与CIED中心,北京 1000292.中日友好医院手术麻醉科,北京 1000293.首都医科大学附属北京安贞医院 北京市心肺血管疾病研究所高血压研究室,北京 100029
摘要：目的 分析影响心脏植入式电子设备(CIED)导线脱位的临床危险因素.方法 选取2013年1月至2024年6月首都医科大学附属北京安贞医院收治的78例因心律失常行CIED植入术后出现导线脱位的患者为导线脱位组,并随机选取同期首都医科大学附属北京安贞医院收治的137例因心律失常行CIED植入术后未出现导线脱位的患者为未脱位组.比较2组患者的基线特征、实验室检查结果及超声检查结果.采用Logistic回归方法分析患者导线脱位的临床危险因素.结果 导线脱位组患者年龄小于未脱位组[(67±12)岁比(73±10)岁],房室传导阻滞和心脏介入手术操作史比例高于未脱位组[46.2％(36/78)比 10.9％(15/137)、23.1％(18/78)比7.3％(10/137)](均 P＜0.05).2 组实验室检查结果比较,除丙氨酸转氨酶外,差异均无统计学意义(均P＞0.05).导线脱位组左心室舒张末期内径、左心室收缩末期内径均大于未脱位组,左心室射血分数低于未脱位组(均P＜0.05).多因素二元Logistic回归分析结果显示,较高的左心室舒张末期内径(比值比=1.43)、较低的左心室射血分数(比值比=1.07)和房室传导阻滞病史(比值比=16.74)与导线脱位事件风险增加独立相关(均P＜0.01).结论 较高的左心室舒张末期内径、较低的左心室射血分数、房室传导阻滞病史与CIED导线脱位事件风险增加独立相关.
关键词：心脏植入式电子设备导线脱位左心室舒张末期内径左心室射血分数
分类号：R654(外科学各论)
论文发表日期：2025-02-07
在线出版日期：2026-09-14（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 166-170 )
英文信息