弥漫性轴突损伤的磁共振氢谱的变化
潘隆盛
许百男
1.中国人民解放军总医院神经外科,北京,1008532.中国人民解放军总医院神经外科,北京,100853
摘要： 弥漫性轴突损伤(Diffuse axonal injury, DAI)普遍存在于各种程度的颅脑损伤中.脑白质中轴突的广泛断裂在重型颅脑损伤病例占50%以上,而在轻度颅脑损伤中仍占30%[1],检查轴突损伤在了解外伤性脑损害中具有重要的意义.但是如何在活体中检测轴突的病理改变相当困难,虽然明显的病理改变能被传统的影像学(CT或T1、T2加权像MRI)证实,而许多DAI趋向于显微镜下的微小改变,死后的尸检才能被发现[2].DAI可引起一系列复杂的神经化学和能量的改变,利用磁共振波谱技术(Megnetic Res*9鄄onance Spectroscopy, MRS)可以在活体上准确的观察这些动态的变化,因而对DAI的基础和临床研究具有重大的意义.本文即对DAI的磁共振氢谱(1H MRS)的变化综述如下.
关键词：弥漫性轴突损伤磁共振波谱分析氢谱
分类号：R651.1+5(外科学各论)R445.2(诊断学)
资助基金：国家自然科学基金(39870793)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 70-73 )