消光法粒度测量中折射率反演问题研究
摘要：多波长消光法粒度测量中,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法可以对折射率进行反演.相比于传统的优化方法,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.
关键词：颗粒测量Mie散射反演
分类号：O4(物理学)
资助基金：上海市科委资助项目(0452nm029)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 119-121 )
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