基于多IP核复用SoC芯片的可靠性研究
于治楼1
施慧彬1
计华2
1.浪潮集团有限公司,2500132.山东师范大学计算机系,250014
摘要：多IP核复用技术在SoC芯片设计中得到广泛应用,一方面带来设计效率的提高,另一方面由于各类IP核质量参差不齐也造成SoC芯片可靠性的降低,本文着重从微处理器可靠性、IP核通信可靠性、IP核状态检测等方面对多IP复用SoC的可靠性进行了研究.
关键词：IPSoC可靠性三模冗余内置自检测
分类号：TP3(计算技术、计算机技术)
论文发表日期：2007-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 52-54 )
英文信息