量子检测效率在平板探测器评估中的研究进展
徐松1
姚旭峰2
黄钢2
1.上海理工大学医疗器械与食品学院,上海200082;上海健康医学院医学影像学院,上海2013082.上海健康医学院医学影像学院,上海201308
摘要：平板探测器(flat panel detector,FPD)是X射线摄影系统中至关重要的部分,其性能直接影响所采集图像的质量.量子检测效率(detective quantum efficiency,DQE)涉及探测器的噪声、分辨率、剂量、调制传递函数、噪声功率谱等多项参数,被公认是X射线成像性能最准确的评估指标,DQE越高,说明影像系统在低X射线入射剂量的情况下,获得高质量影像的能力越强.我们简单介绍了平板探测器的种类,对其DQE的检测技术的研究现状、进展及应用作了综述,归纳了在DQE检测过程中的有关影响因素,并进行了总结展望.
关键词：平板探测器量子检测效率调制传递函数噪声功率谱质量控制
分类号：R318(医用一般科学)TL816+.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
资助基金：国家自然科学基金(61971275)
论文发表日期：2020-03-25
在线出版日期：2026-09-11（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 104-108 )
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