电子元器件银离子迁移评价方法的探究
鲍建科
松下家电研究开发(杭州)有限公司 浙江杭州 310018
摘要：随着电子设备变得更小、更轻、更先进,使用环境更加恶劣,发生银离子迁移的几率也比以往更大.本文在详细介绍银离子迁移现象、机理的同时,全面分析了影响银离子迁移的各类因素,得出评价银离子迁移切实可行的加速试验方法和时间公式,有效地缩短了评价时间.根据经验总结了故障解析的流程以及银离子迁移的发生条件,提出了在银离子迁移过程的每一个步骤中采取措施的策略,防止迁移的再发生.
关键词：银离子迁移加速试验故障解析再发防止
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 84-87,90 )
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