基于多参数性能退化竞争失效的光电探测器储存寿命评估
张也平1
杨童博2
李紫薇3
1.中国工程物理研究院 流体物理研究所,绵阳 6219002.西南交通大学 数学学院统计系,成都 6117563.西南科技大学 信息工程学院,绵阳 621010;西南科技大学 复杂环境装备可靠性研究中心,绵阳 621010
摘要：针对光电探测器的储存寿命评估问题,综合考虑样品关键性能参数有无变坏或者向好的趋势情况,提出了一种基于蒙特卡洛法的多参数竞争失效储存寿命评估新方法.首先,通过性能退化建模选择单一参数的最优退化模型,从而对于退化趋势递增的样品根据失效阈值计算其伪寿命,对于退化趋势递减的样品将其伪寿命看作右删失数据;然后,根据伪寿命数据结合最大期望(Expectation Maximization,EM)算法选择单一性能参数的最优分布;最后,通过蒙特卡洛采样法进行多参数的竞争失效评估.以光电探测器储存案例为实例,验证了该方法的可行性.
关键词：多参数性能退化竞争失效储存寿命最大期望算法蒙特卡洛采样
分类号：TB114.3(工程基础科学)O213.2(概率论与数理统计)
论文发表日期：2025-04-15
在线出版日期：2026-09-12（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：7( 20-26 )
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