结合白光光弹和相移技术解包裹等差线的方法
刘晓蒙
戴曙光
1.上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海,2000932.上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海,200093
摘要：根据条纹色彩的变化确定等差线级数,是一种普遍应用的白光光弹方法.另一种具有较高的精度、操作简便,被广泛应用的光弹技术是相移法.由于色彩特征变弱,白光光弹用于辨识三级以下的等差线条纹.相移法得到的等差线都是包裹的相位,并非等差级数,解包裹等差线也是一项复杂的工作.根据受力构件中应力是连续变化的性质,将白光光弹和相移技术相结合,得到一种解包裹全场等差线的新方法.所述的解包裹方法不依赖于零级条纹,不需要确定零级条纹.最后通过分析径向受压的圆盘,演示了解包裹的新方法.
关键词：白光光弹等差线相移法解包裹
分类号：O348.1(固体力学)
资助基金：The project supported by the Innovation Fund Project for Graduate Student of Shanghai (No.JWCXSL1301)上海市研究生创新基金项目(JWCXSL1301)
论文发表日期：2016-01-01
在线出版日期：2026-09-12（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
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