FPGA 时延故障检测技术研究磁
杨士宁
顾颖
石雪梅
1.中国航天科工二院二〇一所 北京 1008542.中国航天科工二院二〇一所 北京 1008543.中国航天科工二院二〇一所 北京 100854
摘要：随着 FPGA 器件的应用越来越广泛，FPGA 的测试和故障诊断技术得到了广泛重视和研究。 FPGA 的时延故障是 FPGA 内部故障中非常重要的一类故障类型，主要包含器件内部逻辑资源时延故障和连线资源时延故障。论文通过分析 FPGA 的内部结构和时延故障特性，研究 FPGA 内部逻辑资源时延和连线资源时延故障检测方法。利用 Xilinx 公司Virtex‐Ⅱ系列 FPGA 完成时延故障检测方法验证，证明了 FPGA 时延故障检测的可实现性。
关键词：FPGA时延故障测试技术
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2015-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 75-79 )
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