基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析
张欣艳1
苏润洲2
王乐新1
1.黑龙江八一农垦大学,文理学院,黑龙江,大庆,1633192.东北林业大学,理学院,黑龙江,哈尔滨,150040
摘要：利用X射线光电子能谱(XPS)分析技术,研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P,解析并对比原药及残留农药中P的化学结构.结果显示,氧乐果中P部分转化为结合能为133.37 eV的O,O,S-三甲基磷酸酯;敌敌畏中P仍以O,O-二甲基-O-(2,2-二氯乙烯基)磷酸酯为主.表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测,方法简单、可靠性高.
关键词：XPS残留农药特征元素代谢结构
分类号：TS236(食品工业)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2026-09-12（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 76-77,100 )
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